Платформенный материал для ArmSoM по китайскому RK-CS-YF-129 V1.0.0 (контекст 2020 года). Источник охватывает все чипы Rockchip (семейства 29/30/31/32/33/PX/RV и MCU) и ядра, но конкретную плату ArmSoM, топологию USB, BSP и требования лаборатории нужно проверить отдельно. Аппаратные испытания и сертификация не выполнялись. Английского PDF и отдельных технических рисунков нет; многостраничная таблица восстановлена редактируемой. Порядок сертификации, требования инструментов и список поставщиков ниже относятся к историческому источнику, не подтверждают действующие правила.
Неясности источника: Host FS сопоставлен с Low-speed, Host LS — с Full-speed; названия и требования расходятся. Оба межпакетных интервала устройства обозначены EL_22. Сохранено без исправления; перед испытанием сверить с применимой спецификацией.
1. Функциональные испытания USB 2.0
Функциональные испытания проверяют полноту функций изделия. USB-IF предоставляет USB20CV (USB 2.0 Command Verifier) для проверки высоко-, полно- и низкоскоростных устройств по требованиям структуры устройства (глава 9), класса концентраторов (глава 11), HID и OTG. Также охватываются спецификации испытаний классов массовых накопителей и видео. Согласно источнику, все периферийные устройства и концентраторы должны пройти проверку структуры устройства для сертификации.
USB20CV поддерживает только Windows. В источнике требуются Windows 7 или новее и поддержка EHCI на компьютере. Загрузка:
2. Электрические испытания USB 2.0
Электрические испытания прежде всего проверяют сигналы. Спецификации USB 2.0 задают критерии [2][3]; источник требует прохождения электрических испытаний всеми USB-изделиями для сертификации USB-IF. Проверяют высоко-, полно- и низкоскоростные сигналы.
- Низкая/полная скорость: USB-IF Full and Low Speed Electrical and Interoperability Compliance Test Procedure.
- Высокая скорость: USB 2.0 Electrical Compliance Test Specification.
Источник перечисляет признанных USB-IF поставщиков осциллографов: Keysight, Rohde & Schwarz, Tektronix, Teledyne LeCroy. Рекомендуются испытания таблицы 1 согласно спецификациям.
Таблица 1. Основные электрические испытания USB 2.0.
| Испытание | Требование |
|---|---|
| Device HS Signal Quality Test | Источник[2] EL_2 EL_4 EL_5 Data Eye and Mask Test EL_6 Device Rise Time EL_6 Device Fall Time EL_7 Device Non-Monotonic Edge Test |
| Device HS Packet Parameters | Источник[2] EL_21 Sync Field Length Test EL_25 EOP Length Test EL_22 Measure Interpacket Gap Between Second and Third Packets EL_22 Measure Interpacket Gap Between First and Second Packets |
| Device HS Device CHIRP Timing | Источник[2] EL_28 Measure Device CHIRP-K Latency EL_29 Measure Device CHIRP-K Duration EL_31 Hi-Speed Terminations Enable and D+ Disconnect Time |
| Device HS Suspend/Resume/Reset Timing | Источник[2] EL_38 EL_39 Suspend Timing Response EL_40 Resume Timing Response EL_27 Device CHIRP Response to Reset from Hi-Speed EL_28 Device CHIRP Response to Reset from Suspend |
| Device HS Test J/K, SE0_NAK | Источник[2] EL_8 J Test EL_8 K Test EL_9 SE0_NAK Test |
| Device HS Receiver Sensitivity | Источник[2] EL_18 Receiver sensitivity Test - Minimum SYNC Field EL_17 Receiver sensitivity Test EL_16 Receiver sensitivity Test @ Squelch |
| Host HS Signal Quality | Источник[2] EL_6 Rise Time EL_6 Fall Time EL_3 Data Eye and Mask Test EL_7 Non-Monotonic Edge Test |
| Host HS Packet Parameters | Источник[2] EL_21 Sync Field Length Test EL_25 EOP Length Test EL_23 Inter-packet Gap Between First 2 Packets Test EL_22 Inter-packet Gap Between 2nd and 3rd Packet Test EL_55 SOF EOP Width Test |
| Host HS Disconnect Detect | Источник[2] EL_37 Disconnect Detect Test At 525mV Threshold EL_36 Disconnect Detect Test At 625mV Threshold |
| Host HS CHIRP Timing | Источник[2] EL_33 CHIRP Timing Response EL_34 CHIRP K Width EL_34 CHIRP J Width EL_35 SOF Timing Response |
| Host HS Suspend/Resume Timing | Источник[2] EL_39 Suspend Timing Response EL_41 Resume Timing Response |
| Host HS Test J/K, SE0_NAK | Источник[2] EL_8 J Test EL_8 K Test EL_9 SE0_NAK Test |
| Host LS/FS Inrush Current Test | Источник[3] B.4 Inrush Current Testing |
| Host FS Signal Quality Test | Источник[3] B.3.3.1 Low-speed Downstream Signal Quality Test |
| Host LS Signal Quality Test | Источник[3] B.3.3.2 Full-speed Downstream Signal Quality Test |
Таблица 1 в основном проверяет качество высокоскоростных сигналов. Источник предлагает HSETT (High-Speed Electrical Test Tool) для Windows и ссылки ниже; руководство — HSET Documentation version 0.41 for EHCI and xHCI.
- EHSETT 32-bit
- EHSETT 64-bit
- XHSETT 32-bit
- XHSETT 64-bit
- HSET Documentation version 0.41 for EHCI and xHCI
Для Device/Host HS Signal Quality проверяемое устройство должно войти в Test Packet Mode, чтобы сформировать правильный сигнал. Контроллеры Rockchip используют команды или HSETT со следующими ограничениями:
- USB 2.0 Device: вход в Test Packet Mode командами либо инструментом.
- USB 2.0 Host: вход только командами.
Команды приведены в разделе «USB 2.0 test commands and test tools» документа Rockchip_Developer_Guide_USB_SQ_Test_CN.
3. Проверка совместимости USB 2.0
Проверяют совместимость USB-устройства с различными ОС и аппаратными контроллерами. Устройства «Gold Tree» могут использоваться для проверки взаимодействия с разными хостами, например успешного перечисления на EHCI. Источник сообщает, что тогда USB-IF не требовал обязательных испытаний совместимости USB 2.0, поэтому не раскрывает их подробно. Методики см. в xHCI Interoperability Test Procedures For Peripherals, Hubs and Hosts Version.
4. Сертификация USB 2.0
Сертификация USB 2.0 означает прохождение испытаний USB-IF и получение разрешения на логотип USB. Источник перечисляет два варианта: спонсируемые USB-IF мероприятия по проверке соответствия либо признанные независимые лаборатории (https://www.usb.org/labs). После успешных испытаний, по источнику, присваивается TESTING ID (TID), позволяющий найти устройство на сайте USB-IF и получить право на логотип.
Общий процесс в источнике:
- Подать заявку на членство USB-IF и получить Vendor ID (VID).
- Подготовить контрольный список испытаний.
- Передать изделие уполномоченной независимой лаборатории.
- Получить положительный отчёт и сертификат.
- Использовать соответствующий логотип USB.
Источник называет Rockchip членом USB-IF с VID 0x2207, также заданным в SDK по умолчанию. Этот VID предназначен только для разработки/отладки и не предоставляется разработчикам для сертификации изделия; источник предлагает самостоятельно вступить в USB-IF для получения уникального Vendor ID. Это порядок из документа 2020 года, а не замена действующих условий USB-IF.