ArmSoM-Plattformreferenz nach der chinesischen Quelle RK-CS-YF-129 V1.0.0 (technischer Stand 2020). Die Quelle umfasst alle Rockchip-Chips (29/30/31/32/33/PX/RV-Familien und MCU) und Kernel; konkrete ArmSoM-Platine, USB-Topologie, BSP und Laboranforderungen sind gesondert zu prüfen. Keine Hardwaretests oder Zertifizierung durchgeführt. Kein englisches PDF und keine eigenständigen technischen Abbildungen vorhanden; die seitenübergreifende Tabelle ist editierbar. Zertifizierungsabläufe, Werkzeuganforderungen und Herstellerlisten sind historische Quellenaussagen, keine bestätigten aktuellen Regeln.
Quellenunklarheiten: Host FS ist Low-speed, Host LS Full-speed zugeordnet; Namen und Anforderungen widersprechen sich. Beide Geräte-Paketabstände heißen EL_22. Unverändert übernommen; vor dem Test mit der geltenden Spezifikation abgleichen.
1. USB-2.0-Funktionstests
Funktionstests prüfen den vollständigen Funktionsumfang des Produkts. USB-IF stellt USB20CV (USB 2.0 Command Verifier) bereit, um High-, Full- und Low-Speed-Geräte anhand des Device Framework (Kapitel 9), der Hub-Geräteklasse (Kapitel 11), HID- und OTG-Spezifikationen zu prüfen. Auch Massenspeicher- und Videoklassen-Testspezifikationen sind enthalten. Laut Quelle müssen alle USB-Peripheriegeräte und Hubs die Device-Framework-Tests zur Zertifizierung bestehen.
USB20CV unterstützt nur Windows. Die Quelle fordert Windows 7 oder neuer sowie einen Rechner mit EHCI-Unterstützung. Downloads:
2. Elektrische USB-2.0-Tests
Elektrische Tests prüfen vor allem die Signale. Die USB-2.0-Prüfspezifikationen definieren Produktkriterien [2][3]; laut Quelle müssen alle USB-Produkte die elektrischen Tests für die USB-IF-Zertifizierung bestehen. High-, Full- und Low-Speed-Signale sind abzudecken.
- Low/Full Speed: USB-IF Full and Low Speed Electrical and Interoperability Compliance Test Procedure.
- High Speed: USB 2.0 Electrical Compliance Test Specification.
Die Quelle nennt Keysight, Rohde & Schwarz, Tektronix und Teledyne LeCroy als von USB-IF anerkannte Oszilloskophersteller. Sie empfiehlt die Prüfungen in Tabelle 1 nach den Spezifikationen.
Tabelle 1: Wesentliche elektrische USB-2.0-Tests.
| Prüfung | Anforderung |
|---|---|
| Device HS Signal Quality Test | Referenz[2] EL_2 EL_4 EL_5 Data Eye and Mask Test EL_6 Device Rise Time EL_6 Device Fall Time EL_7 Device Non-Monotonic Edge Test |
| Device HS Packet Parameters | Referenz[2] EL_21 Sync Field Length Test EL_25 EOP Length Test EL_22 Measure Interpacket Gap Between Second and Third Packets EL_22 Measure Interpacket Gap Between First and Second Packets |
| Device HS Device CHIRP Timing | Referenz[2] EL_28 Measure Device CHIRP-K Latency EL_29 Measure Device CHIRP-K Duration EL_31 Hi-Speed Terminations Enable and D+ Disconnect Time |
| Device HS Suspend/Resume/Reset Timing | Referenz[2] EL_38 EL_39 Suspend Timing Response EL_40 Resume Timing Response EL_27 Device CHIRP Response to Reset from Hi-Speed EL_28 Device CHIRP Response to Reset from Suspend |
| Device HS Test J/K, SE0_NAK | Referenz[2] EL_8 J Test EL_8 K Test EL_9 SE0_NAK Test |
| Device HS Receiver Sensitivity | Referenz[2] EL_18 Receiver sensitivity Test - Minimum SYNC Field EL_17 Receiver sensitivity Test EL_16 Receiver sensitivity Test @ Squelch |
| Host HS Signal Quality | Referenz[2] EL_6 Rise Time EL_6 Fall Time EL_3 Data Eye and Mask Test EL_7 Non-Monotonic Edge Test |
| Host HS Packet Parameters | Referenz[2] EL_21 Sync Field Length Test EL_25 EOP Length Test EL_23 Inter-packet Gap Between First 2 Packets Test EL_22 Inter-packet Gap Between 2nd and 3rd Packet Test EL_55 SOF EOP Width Test |
| Host HS Disconnect Detect | Referenz[2] EL_37 Disconnect Detect Test At 525mV Threshold EL_36 Disconnect Detect Test At 625mV Threshold |
| Host HS CHIRP Timing | Referenz[2] EL_33 CHIRP Timing Response EL_34 CHIRP K Width EL_34 CHIRP J Width EL_35 SOF Timing Response |
| Host HS Suspend/Resume Timing | Referenz[2] EL_39 Suspend Timing Response EL_41 Resume Timing Response |
| Host HS Test J/K, SE0_NAK | Referenz[2] EL_8 J Test EL_8 K Test EL_9 SE0_NAK Test |
| Host LS/FS Inrush Current Test | Referenz[3] B.4 Inrush Current Testing |
| Host FS Signal Quality Test | Referenz[3] B.3.3.1 Low-speed Downstream Signal Quality Test |
| Host LS Signal Quality Test | Referenz[3] B.3.3.2 Full-speed Downstream Signal Quality Test |
Tabelle 1 prüft vor allem die High-Speed-Signalqualität. Die Quelle stellt HSETT (High-Speed Electrical Test Tool) für Windows mit den folgenden Downloadlinks vor; die Anleitung heißt HSET Documentation version 0.41 for EHCI and xHCI.
- EHSETT 32-bit
- EHSETT 64-bit
- XHSETT 32-bit
- XHSETT 64-bit
- HSET Documentation version 0.41 for EHCI and xHCI
Für Device/Host HS Signal Quality muss das Prüfgerät in den Test Packet Mode wechseln, damit das richtige Signal entsteht. Rockchip-Controller verwenden Testbefehle oder HSETT unter folgenden Einschränkungen:
- USB 2.0 Device: Testbefehle oder Werkzeug können den Test Packet Mode aktivieren.
- USB 2.0 Host: nur Testbefehle können ihn aktivieren.
Befehle stehen im Abschnitt „USB 2.0 test commands and test tools“ von Rockchip_Developer_Guide_USB_SQ_Test_CN.
3. USB-2.0-Interoperabilitätstests
Interoperabilitätstests prüfen die Kompatibilität mit unterschiedlichen Betriebssystemen und Hardwarecontrollern. „Gold Tree“-Geräte können die Zusammenarbeit mit verschiedenen Hosts prüfen, beispielsweise erfolgreiche Enumeration an einem EHCI-Host. Laut Quelle waren USB-2.0-Interoperabilitätstests damals bei USB-IF nicht verpflichtend und werden deshalb nicht näher erläutert. Methoden stehen in xHCI Interoperability Test Procedures For Peripherals, Hubs and Hosts Version.
4. USB-2.0-Zertifizierung
USB-2.0-Zertifizierung bedeutet das Bestehen der USB-IF-Tests und die Erlaubnis zur Nutzung des USB-Logos. Die Quelle nennt zwei Wege: von USB-IF unterstützte Compliance-Workshops oder anerkannte unabhängige Labore (https://www.usb.org/labs). Nach Bestehen wird laut Quelle eine TESTING ID (TID) vergeben, mit der Geräteinformationen auf der USB-IF-Website auffindbar sind und die Logonutzung ermöglicht wird.
Allgemeiner Ablauf laut Quelle:
- USB-IF-Mitgliedschaft beantragen und Vendor ID (VID) erhalten.
- USB-Compliance-Testcheckliste vorbereiten.
- Produkt an ein autorisiertes unabhängiges Labor übergeben.
- Positiven Bericht und Zertifikat erhalten.
- Entsprechendes USB-Logo verwenden.
Die Quelle nennt Rockchip als USB-IF-Mitglied mit VID 0x2207, zugleich SDK-Standardwert. Diese VID dient nur Entwicklung/Debugging und wird Entwicklern nicht zur Produktzertifizierung überlassen; laut Quelle sollen sie selbst Mitgliedschaft und eindeutige Vendor ID beantragen. Dies ist der Ablauf aus der Quelle von 2020, kein Ersatz für aktuelle USB-IF-Lizenzbedingungen.